IP3X 与 IP4X 的测试流程核心框架一致(准备→测试→判定),差异集中在试具规格、推力参数,以下是分等级的详细测试流程,严格遵循 GB/T 4208-2017 和 IEC 60529 标准:
确认测试环境:温度 15-35℃、湿度 45%-75%,无明显粉尘、气流干扰,设备外壳处于正常安装状态(螺丝拧紧、盖板闭合)。
检查试具合规性:IP3X 用 2.5mm 直形探棒(IEC 60529 试具 C),IP4X 用 1.0mm 钢丝探棒(IEC 60529 试具 D),需验证探棒直径公差、长度(100mm)及档球(35mm)无变形,推力校准合格。
明确测试范围:标记设备外壳所有缝隙、通风口、接口、按键周边、散热格栅等易侵入部位,确保无遗漏测试点。
准备辅助工具:推力计(精度 ±0.1N)、计时器、手电筒(观察内部是否触及危险部件)、测试记录表。
试具定位:手持探棒手柄,将探棒垂直或沿外壳缝隙自然侵入角度,对准第一个测试点,确保探棒轴线与缝隙方向一致。
施加推力:缓慢施加 3±0.3N 的轴向推力,保持推力稳定(用推力计实时监测),持续 10-30 秒。
全面检测:在保持推力的同时,缓慢转动探棒(角度不超过 30°),模拟异物可能的侵入路径;之后移动探棒至下一个测试点,重复步骤 1-2,覆盖所有标记部位。
关键观察:用手电筒照射测试部位,观察探棒是否穿透外壳;若设备透明或可拆解,需确认探棒未触及内部带电部件、转动部件等危险结构。
记录数据:逐点记录测试部位、推力值、是否穿透、是否触及危险部件,若有异常需标注具体位置。
试具定位:使用 1.0mm 钢丝探棒,按 IP3X 的定位方式,对准测试点,因探棒更细,需重点关注微小缝隙(如按键间隙、接口防尘塞周边)。
施加推力:缓慢施加 1±0.1N 的轴向推力(避免探棒弯曲),保持 10-30 秒,全程用推力计控制力度,防止超力导致探棒变形。
全面检测:沿缝隙缓慢移动探棒,对狭窄缝隙可适当调整角度(不超过 45°),确保探棒充分接触缝隙周边;逐一覆盖所有测试点,无遗漏。
关键观察:重点检查 1.0mm 探棒是否嵌入缝隙或穿透外壳,同时确认内部无 1.0mm 及以上固体异物可能侵入的通道,且探棒未触及内部危险部件。
记录数据:同 IP3X 记录要求,额外注明微小缝隙的测试情况,如是否有探棒卡顿、缝隙是否存在尺寸超差等问题。
合格判定:两者均需满足 “试具未穿透外壳"“未触及内部危险部件"“无明显固体异物侵入通道",即为对应等级合格;若任一测试点不符合,判定该等级不合格。
设备复位:测试后检查设备外壳无破损、缝隙无变形,清理表面残留痕迹。
报告输出:整理测试数据,注明试具型号、环境参数、测试点数量、合格情况及异常描述,形成正式测试报告。