IP 防护 试具 D（Test Probe D）完整应用说明

一、基础技术参数

1. 结构：刚性直金属探针，端头球形

2. 探针直径：1.0 mm，有效长度 100 mm

3. 标准试验推力：1 ± 0.1 N

4. 探针为导电材质，配套导通测试仪，识别是否接触危险带电部件、运动零部件

5. 对应防护等级：IP4X；附加防护字母 IPXXD（防止细金属线、细针触及危险部件）

6. 

合格判定准则

IP4X 含义：阻挡直径≥1.0mm 固体异物进入外壳；防止细铁丝、细针、细导线伸入触碰危险件。

二、核心应用场景

1. IP4X 型式试验（第1位特征数字 = 4）

• 精密测量仪器、实验室分析设备、传感器变送器

• 高密度小型工控模块、微型电源、通信设备

• 医疗电气设备（GB 9706.1 有部分机型要求 IP4X 防护）

• 继电器模组、小型端子组件、精密伺服驱动

• 部分室内专业视听设备、精密光学设备外壳

2. 附加字母试验 IPXXD

3. 研发结构验证

• 设备通风格栅最大孔径设计校核

• 壳体拼接缝隙、散热孔、接线窗口、旋钮周边间隙评估

• 高密度电路板外壳隔离结构设计验证，规避细小金属异物伸入造成短路风险

4. 工厂质检、成品抽检

三、全套触及试具汇总对比

四、标准试验操作要点

1. 样品保持正常装配状态，盖板、检修门全部闭合；

2. 全覆盖测试：散热格栅、壳体接缝、观察窗、按钮缝隙、接线孔、通风口；多角度倾斜试探；

3. 仅施加 1N 推力，禁止用力挤压、撑开缝隙；强行扩缝测试结果无效；

4. 探针连接导通装置，一旦触碰危险导电部件判定不合格；

5. 试验后外壳不能产生变形。